FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量， 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重， 还可以进行金属物料分析。

二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域， 在机械、 电子、仪表、 塑胶等行业被广泛使用。