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影像式测绘仪(三次元)
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CPJ-300AZ系列正像投影仪
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产品中心

  • 全自动影像测量仪
    全自动影像测量仪

    全自动影像测量仪FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量, 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重, 还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2023-03-14 浏览量:1276
  • 全自动光学影像测量仪
    全自动光学影像测量仪

    FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量, 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重, 还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2023-03-14 浏览量:1531
  • 复合型影像测量仪
    复合型影像测量仪

    复合型影像测量仪是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样可以测量。

    更新时间:2023-03-14 浏览量:1212
  • X-谢线镀层测厚及金属分析仪/萤光X线膜厚计
    X-谢线镀层测厚及金属分析仪/萤光X线膜厚计

    FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量, 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重, 还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2023-03-14 浏览量:1656
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